http://tbt.testrust.com 来源：厦门WTO工作站 时间：2013-08-02
IEC 62321-1、-2、-3-1、-3-2、-4和-5的2013版已通过最终国际标准版草案(FDIS)阶段，目前已正式公布。有关电子产品中特定有害物质测定的标准- IEC 62321，概述了电子产品的测试方法，以确定产品中的有害化学物质浓度低于欧盟有害物质限制指令(RoHS)法律中制定的有害化学物质浓度。如同以往，2008版的IEC 62321标准也经过了一段维护周期，现今再将最佳的操作和先进的技术引入测试程序，以确保实验的一致性和可靠度，满足标准的制定。
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IEC 标准
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范围
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62321-1
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简介和概述
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62321-2
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样品的拆卸、拆解和机械拆分
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62321-3-1
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使用X射线荧光光谱仪对电子产品中的铅、汞、镉、总铬和总溴进行筛选
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62321-3-2
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使用C-IC对聚合物和电子产品中的总溴进行筛选
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62321-4
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使用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚合物、金属和电子材料中的汞
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62321-5
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使用AAS、AFS、ICP-OS和ICP-MS确定聚合物和电子材料中的镉、铅和铬，以及金属中的镉和铅
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这些标准预计公布日期如下:
2014年2月- IEC 62321-6
2014年4月- IEC 62321-7-1
2014年11月- IEC 62321-7-2
2015年3月- IEC 62321-8
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